根据我国相关标准的定义，光电子器件（Optoelectronic Device）是指：具有光电特性的元件。包括但不限于激光二极管、发光二极管、光电二极管、雪崩光电二极管及由它们组成的组件或模块统称“光电子器件”。光电子器件的可靠性直接关乎着光通信设备的可靠性以及光通信网络的可靠运行。为此在我国，国家标准和通信行业标准都对通信用光电子器件的可靠性方面做出了规范要求，现介绍如下。
欲进一步了解相关光电子器件的请进入。
一、通用要求（GB）
在2007年11月14日国家批准发布了GB/T 21194-2007《通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求》，并于2008年5月1日开始实施。它是参照Telcordia GR-468-CORE：2004《通信设备用光电子器件可靠性一般要求》，在光电子器件评定的抽样方案、光电特性参数测试、物理特性测试、机械完整性测试和加速老化等技术保持一致，在其他方面和文件结构上不同。
该标准规定了通信设备用光电子器件的术语、定义、可靠性评定的一般要求、试验程序和光电子器件的评定方法。适用于通信设备用光电子器件，包括激光二极管、发光二极管、光电二极管、雪崩光电二极管及其它们的组件，其他类似器件可参照执行。该标准的主要内容是由5章所组成，其章、节名称详见下表1。若要详细了解该国标具体内容的请查阅下附件1。
表1：GB/T 21194-2007的目录
附件1：GB/T 21194-2007《通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求》
二、试验方法（GB）
我国在2017年5月21日又批准发布了GB/T 33768-2017《通信用光电子器件可靠性试验方法》，并于2017年12月1日起开始实施。该标准与GB/T 21194-2007形成配套。它也参照了Telcordia GR-468-CORE：2004及IEC的相关标准。
该标准规定了通信用光电子器件可靠性试验方法的术语和定义、一般要求、详细要求，包括试验的目的、设备、条件、程序、检验及失效判据，适用于通信用光电子器件，其它领域的光电子器件也可参照使用。该标准的主要内容是由5章所组成，其章、节名称详见下表2；若要详细了解该标准具体内容的请查阅下附件2。
表2：GB/T 33768-2017的目录
附件2：GB/T 33768-2017《通信用光电子器件可靠性试验方法》
三、试验方法（YD）
工信部在2011年的12月20日首先发布了YD/T 2342-2011《通信用光电子器件可靠性试验方法》，并于发布之日起实施。该标准也是参照了Telcordia GR-468-CORE：2004及IEC的相关标准而制定。
该标准规定了通信用光电子器件可靠性试验方法的一般要求和详细要求，包括：试验目的、设备、条件、程序、检验及失效判据，适用于通信用光电子器件，包括但不限于激光二极管、发光二极管、光电二极管、雪崩光电二极管及由它们组成的组件或模块，简称“光电子器件”，其他领域的光电子器件也可参照使用。该标准的主要内容是由5章所组成，其章、节名称详见下表3；若要详细了解该标准具体内容的请查阅下附件3。
表3：YD/T 2342-2011的目录
附件3：YD/T 2342-2011《通信用光电子器件可靠性试验方法》
由上内容看出，GB/T 33768-2017与YD/T 2342-2011的内容及适用是基本相同的，应该说GB/T 33768-2017是YD/T 2342-2011的标准升格国家标准的最新版本，此时应执行的是国家标准。
欲进一步了解光纤收发器可靠性通信行业标准情况的请进入。
